介電常數介質(zhì)損耗測試儀注意事項
高頻Q表是多用途的阻抗測量?jì)x器,為了提高測量精度,除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小,使耦合回路的頻響盡可能地好之外,還要掌握正確的測試方法和殘余參數修正方法。
下面為大家介紹一下介電常數介質(zhì)損耗測試儀注意事項
1.測試注意事項
a.本儀器應水平安放。
b.如果你需要較地測量,請接通電源后,預熱30分鐘,將調諧電容從小到大緩慢地調一次,CPU將自動(dòng)對顯示的電容進(jìn)行溫度補償,然后再進(jìn)行測試。
c.調節主調電容的電容量時(shí),特別注意當刻度調到zui大或zui小值時(shí),不要用力繼續再調.
d.被測件和測試電路接線(xiàn)柱間的接線(xiàn)應盡量短,足夠粗,并應接觸良好、可靠,以減少因接線(xiàn)的電阻和分布參數所帶來(lái)的測量誤差。
e.被測件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時(shí)可用低耗損的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊。
f.手不得靠近試件,以免人體感應影響造成測量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應連接在低電位端的接線(xiàn)柱。
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