介電強度測試的影響因素
點(diǎn)擊次數:1507 更新時(shí)間:2013-10-18
電壓波形及電壓作用時(shí)間影響。材料在電場(chǎng)作用下,初始時(shí)單位時(shí)間內材料內部產(chǎn)生的熱量大于介質(zhì)散發(fā)出去的熱量,進(jìn)而介質(zhì)溫度升高,溫度的升高是一個(gè)由快轉滿(mǎn)的,若升壓速度較慢zui后發(fā)生材料擊穿熱擊穿的成分較大。作用時(shí)間的影響多因熱量積累而使擊穿電壓值隨電壓作用增加而下降,處于熱擊穿形式的試樣,基本上隨升壓速度的提高擊穿強度也增大。因此,一般規定試樣擊穿電壓低于20kv時(shí)升壓速度為1.0kv/s;大于或等于20kv時(shí)升壓速度為2.0kv/s。
電極倒角的影響:電極邊緣處電場(chǎng)強度遠遠高于內部,但邊緣效應極難消除。為避免電極邊緣成一直角,需采用一定倒角r。國家標準中規定r=2.50mm。
標簽:介電強度測試,擊穿測試,電壓擊穿
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