介電常數測試儀(電壓擊穿試驗儀)
介電常數測試儀/介質(zhì)損耗因數和電容率測試儀的詳細描述:
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介電常數介質(zhì)損耗試驗儀滿(mǎn)足標準:GBT1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(cháng)在內)下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法
概述
A型高頻Q表和C型高頻Q表主要區別
| A | C |
測試頻率范圍 | 25kHz~60MHz | 100kHz~160MHz |
主調電容控制 | 傳感器 | 步進(jìn)馬達 |
電容搜索 | 無(wú) | 有 |
A/C高頻Q表能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位。
A/C高頻Q表是北廣精儀儀器設備有限公司zui
新研制的產(chǎn)品,它以DDS數字直接合成方式產(chǎn)生信號源,頻率達
60MHz/160MHz,信號源具有信號失真小、頻率、信號幅度穩定的優(yōu)點(diǎn),更保證了測量精度的性。A主電容調節用傳感器感應,電容讀數,且頻率值可設置。C主電容調節用
步進(jìn)馬達控制,電容讀數更加,頻率值和電容值均可設置。A/C電容、電感、Q值、頻率、量程都用數字顯示,在某一頻率下,只要能找到諧振點(diǎn),都能直接讀出電感、電容值,大大擴展了電感的測量范圍,而不再是固定的幾個(gè)頻率下才能測出電感值的大小。A/C*的諧振點(diǎn)頻率自動(dòng)搜索或電容自動(dòng)搜索功能,能幫助你在使用時(shí)快速地找到被測量器件的諧振點(diǎn),自動(dòng)讀出Q值和其它參數。Q值量程可手動(dòng)或自動(dòng)轉換。
二、工作特性
1.Q值測量
a.Q值測量范圍:2~1023;
b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔;
c.標稱(chēng)誤差
| A | C |
頻率范圍 | 25kHz~10MHz | 100kHz~10MHz |
固有誤差 | ≤5%±滿(mǎn)度值的2% | ≤5%±滿(mǎn)度值的2% |
工作誤差 | ≤7%±滿(mǎn)度值的2% | ≤7%±滿(mǎn)度值的2% |
頻率范圍 | 10MHz~60MHz | 10MHz~160MHz |
固有誤差 | ≤6%±滿(mǎn)度值的2% | ≤6%±滿(mǎn)度值的2% |
工作誤差 | ≤8%±滿(mǎn)度值的2% | ≤8%±滿(mǎn)度值的2% |
2.電感測量范圍
A | C |
14.5nH~8.14H | 4.5nH~140mH |
3.電容測量
| A | C |
直接測量范圍 | 1~460p | 1~205p |
主電容調節范圍 | 40~500pF | 18~220pF |
準確度 | 150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1% | 150pF以下±1.5pF 150pF以上±1% |
注:大于直接測量范圍的電容測量見(jiàn)使用方法。
4.信號源頻率覆蓋范圍
| A | C |
頻率范圍 | 10kHz~60MHz | 0.1~160MHz |
CH1 | 10~99.9999kHz | 0.1~0.999999MHz |
CH2 | 100~999.999kHz | 1~9.99999MHz |
CH3 | 1~9.99999MHz | 10~99.9999MHz |
CH4 | 10~60MHz | 100~160MHz |
頻率指示誤差 | 3×10-5±1個(gè)字 |
5.Q合格指示預置功能:預置范圍:5~1000
6.Q表正常工作條件
a. 環(huán)境溫度:0℃~+40℃;
b.相對濕度:<80%;
c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
7.其他
a.消耗功率:約25W;
b.凈重:約7kg;
c.外型尺寸:(寬×高×深)mm:380×132×280。
使用方法
高頻Q表是多用途的阻抗測量?jì)x器,為了提高測量精度,除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小,使耦合回路的頻響盡可能地好之外,還要掌握正確的測試方法和殘余參數修正方法。
1.測試注意事項
a.本儀器應水平安放;
b.如果你需要較地測量,請接通電源后,預熱30分鐘;
c.調節主調電容或主調電容數碼開(kāi)關(guān)時(shí),當接近諧振點(diǎn)時(shí)請緩調;
d.被測件和測試電路接線(xiàn)柱間的接線(xiàn)應盡量短,足夠粗,并應接觸良好、可靠,以減少因接線(xiàn)的電阻和分布參數所帶來(lái)的測量誤差;
e.被測件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時(shí)可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊;
f.手不得靠近試件,以免人體感應影響造成測量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應連接在低電位端的接線(xiàn)柱。
2.高頻線(xiàn)圈的Q值測量(基本測量法)
六、維修
1.新購儀器的檢查
新購的儀器能先用LKI-1電感組,將各個(gè)電感在各個(gè)不同頻率測試Q值,把測試的情況,例使用的電感號、測試頻率Q讀數、電容讀數等多次測得數及測試環(huán)境條件逐一詳細記錄,并把記錄保存起來(lái),以供以后維修時(shí)作參考。
LKI-1電感組是測試時(shí)作輔助電感用的,不能把這些電感當作高精度的標準電感看待。隨著(zhù)測試環(huán)境條件不同,測得電感器Q值和分布電容可能略有不同。
2.使用和保養
高頻Q表是比較精密的阻抗測量?jì)x器,在合理使用和注意保養情況下,才能保證長(cháng)期穩定和較高的測試精度。
a.熟悉本說(shuō)明書(shū),正確地使用儀器;
b.使儀器經(jīng)常保持清潔、干燥;
c.本儀器保用期為18個(gè)月,如發(fā)現機械故障或失去準確度,可以原封送回本廠(chǎng),免費修理。
附表二 各Q值均值回路指示值
和測試回路平均殘量修正系數表
線(xiàn)圈號 | 測試 頻率 | C |
| |
修正 系數 |
| |||
1 | 100kHz | 114 |
|
|
2 | 400kHz | 135 | 136 | 1 |
3 | 1MHz | 134 | 128.5 | 0.96 |
4 | 2MHz | 154 |
|
|
4.5MHz | 183 | 193 | 1.05 | |
5 | 4.5MHz | 170 |
|
|
12MHz | 237 | 236.2 | 1 | |
6 | 12MHz | 234 |
|
|
25MHz | 305 | 281 | 0.92 | |
7 | 25MHz | 218 | 170 | 0.78 |
50MHz | 257 | 252 | 0.98 |
Qe:標準有效Q值
A型Q表在測試Q值時(shí),已對測試回路的殘量作了修正,故不再需要對Q值進(jìn)行均值修正。
六、維修
1.新購儀器的檢查
新購的儀器能先用LKI-1電感組,將各個(gè)電感在各個(gè)不同頻率測試Q值,把測試的情況,例使用的電感號、測試頻率Q讀數、電容讀數等多次測得數及測試環(huán)境條件逐一詳細記錄,并把記錄保存起來(lái),以供以后維修時(shí)作參考。
LKI-1電感組是測試時(shí)作輔助電感用的,不能把這些電感當作高精度的標準電感看待。隨著(zhù)測試環(huán)境條件不同,測得電感器Q值和分布電容可能略有不同。
2.使用和保養
高頻Q表是比較精密的阻抗測量?jì)x器,在合理使用和注意保養情況下,才能保證長(cháng)期穩定和較高的測試精度。
a.熟悉本說(shuō)明書(shū),正確地使用儀器;
b.使儀器經(jīng)常保持清潔、干燥;
c.本儀器保用期為18個(gè)月,如發(fā)現機械故障或失去準確度,可以原封送回本廠(chǎng),免費修理。
介電常數介質(zhì)損耗測試儀電感器:
按測試頻率要求,需要配置不同量的電感器。
例如:在1MHz測試頻率時(shí),要配250μH電感器,在50MHz測試頻率時(shí),要配0.1μH電感器等。
高頻介質(zhì)樣品(選購件):
在現行高頻介質(zhì)材料檢定系統中,檢定部門(mén)為高頻介質(zhì)損耗測量?jì)x提供的測量標準是高頻標準介質(zhì)樣品。
該樣品由人工藍寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測試樣品。用戶(hù)可按需訂購,以保證測試裝置的重復性和準確性。
介電常數介質(zhì)損耗測試儀特點(diǎn):
◎ 本公司創(chuàng )新的自動(dòng)Q值保持技術(shù),使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。
◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數:Q值,測試頻率,調諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨立信號 源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
介電常數和介質(zhì)損耗測試儀工作頻率范圍是10kHz~120MHz,它能完成工作頻率內材料的高頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。
本儀器中測試裝置是由平板電容器和測微圓筒線(xiàn)性電容器組成,平板電容器一般用來(lái)夾被測樣品,配用Q表作為指示儀器。
絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過(guò)公式計算得到。
同樣,由測微圓筒線(xiàn)性電容器的電容量讀數變化,通過(guò)公式計算得到介電常數。
介電常數介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)指標:
2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測試。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍:
tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tanδ和ε測量精度(1MHz):
tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%
工作頻率范圍:50kHz~50MHz 四位數顯,壓控振蕩器
Q值測量范圍:1~1000三位數顯,±1Q分辨率
可調電容范圍:40~500 pF ΔC±3pF
電容測量誤差:±1%±1pF
Q表殘余電感值:約20nH
介電常數介質(zhì)損耗測試儀裝置:
2.3.1 平板電容器極片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線(xiàn)性: 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圓筒電容器可調范圍:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 裝置插頭間距:25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4
標簽:電壓擊穿試驗儀 介電常數測試儀 介質(zhì)損耗測試儀 體積表面電阻率測試儀 體積電阻率測試儀