四探針導電電阻測試儀
產(chǎn)品概述
四探針導電電阻測試儀豐富的接口,Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。實(shí)現遠程控制。U盤(pán)可記錄測試數據
技術(shù)參數:
1.電阻率:10-5~2×106Ω-cm
2.電 阻:10-5~2×106Ω
3.電導率:5×10-6~105ms/cm
4.分辨率: 小0.1μΩ測量誤差±(0.05%讀數±5字)
5.測量電壓量程: 2mV 20mV 200mV 2V 測量精度±(0.1%讀數)
6.分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV
7.電流輸出:直流電流 0~1000mA 連續可調,由交流電源供電。
量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA, 誤差:±0.2%讀數±2字
8.顯示方式:液晶顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動(dòng)換算
9.傳感器壓力:200kg (其他規格可以定制)
10.粉末測量裝置 模具:內徑10mm;高:25mm;
加壓方式:手動(dòng)液壓加壓/自動(dòng)加壓方式(選購)
11.電源:220±10% 50HZ/60HZ
12.主機外形尺寸:330mm*350mm*120mm
13.凈重量:約6kg
14.標配外選購:1).標
導電電阻率測試儀功能介紹:本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠(chǎng)、焦化廠(chǎng)、石化廠(chǎng)、粉末冶金廠(chǎng)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產(chǎn)品及測試項目要求選購.使用薄膜按鍵開(kāi)關(guān)面板,操作簡(jiǎn)單,耐用,符合人體工學(xué)操作規范. 提供中文或英文兩種語(yǔ)言操作界面
導電電阻率測試儀滿(mǎn)足:YST 587.6-2006 炭陽(yáng)極用煅后石油焦檢測方法 第6部分 粉末電阻率的測定
配置手動(dòng)粉末測試裝置也可以(選購)自動(dòng)粉末測試裝置,測試粉末時(shí)可以通過(guò)裝置獲得粉末壓實(shí)后高度、直徑、壓強等數據,輸入儀器后自動(dòng)計算出所需數據.能方便解決粉末及顆粒物料電阻、電阻率及電導率測量需求,經(jīng)濟實(shí)惠,功能突出,設計合理,是粉末行業(yè)理想之測試儀器.
BEST-300C導電材料電阻率測定儀
按照硅片電阻率測量的國際標準(ASTM F84)及標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針?lè )ā?、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針?lè )ā凡⒖济绹?A.S.T.M 標準,本機配置232電腦接口及USB兩種接口,本機采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差,比市場(chǎng)上其他普通的四探針測試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量,更加準確.
本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無(wú)需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測量并根據測試結果自動(dòng)轉換量程,無(wú)需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質(zhì)量輕便,運輸安全、使用方便;選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數據,自動(dòng)生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產(chǎn)品及測試項目要求選購
四探針導電電阻測試儀校正功能:可手動(dòng)或自動(dòng)選擇測試量程 全量程自動(dòng)清零。厚度可預設,自動(dòng)修正樣品的電阻率,無(wú)需查表即可計算出電阻率。自動(dòng)進(jìn)行電流換向,并進(jìn)行正反向電流下的電阻率(或方塊電阻)測量,顯示平均值.測薄片時(shí),可自動(dòng)進(jìn)行厚度修正。雙電測測試模式,測量精度高、穩定性好.具備溫度補償功能,修正被測材料溫漂帶來(lái)的測試結果偏差
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