四探針導電材料電阻率測試儀
型 號BEST-300C
更新時(shí)間2023-08-10
廠(chǎng)商性質(zhì)生產(chǎn)廠(chǎng)家
報價(jià)20000
產(chǎn)品概述
四探針導電材料電阻率測試儀在測試過(guò)程中,在滿(mǎn)足基本條件下可以不考慮探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置等因素。四探針導電材料電阻率測試儀自動(dòng)修正,降低了其對測試結果的影響,從而提高了測量結果的準確度。通過(guò)采用四探針雙位組合測量技術(shù),將范德堡測量方法應用到直線(xiàn)四探針上。利用電流探針和電壓探針的組合變換,進(jìn)行兩次電測量,其最后計算結果能自動(dòng)消除由樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素所引起的,對測量結果的不利影響。適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗和分析半導體材料質(zhì)量的工具;液晶顯示,自動(dòng)測量和系數補償,并帶有溫度補償功能,自動(dòng)轉換量程;采用AD芯片控制,恒流輸出,選配:PC軟件,保存和打印數據,生成報表
用于:覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試等相關(guān)產(chǎn)品
電阻測量范圍:
1、電阻率: 1×10-6~2×106Ω.cm、
電 阻:1×10-5~2×105Ω
電導率:5×10-6~1×108ms/cm
分辨率: 最小1μΩ
測量誤差±5%
2、測量電壓量程: 2mV 20mV 200mV 2V
測量精度±(0.1%讀數)
分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV
3、⑴電流輸出:直流電流 0~1000mA 連續可調,由交流電源供電。
⑵量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA,
⑶誤差:±0.2%讀數±2字
4. 主機外形尺寸:330mm*350mm*110mm
5、顯示方式:液晶顯示6、電源:220±10% 50HZ/60HZ
7、標配:測試平臺一套、主機一套、電源線(xiàn)數據線(xiàn)一套。
四端測試法是目前較先進(jìn)之測試方法,主要針對高精度要求之產(chǎn)品測試;本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
本儀器配置各類(lèi)測量裝置可以測試不同材料之電導率。液晶顯示,無(wú)需人工計算,并帶有溫度補償功能,電導率單位自動(dòng)選擇,BEST-300C 材料電導率測試儀自動(dòng)測量并根據測試結果自動(dòng)轉換量程,無(wú)需人工多次和重復設置。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數據,自動(dòng)生成圖表和報表。
本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導率值、溫度、壓強值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產(chǎn)品及測試項目要求選購.
提供中文或英文兩種語(yǔ)言操作界面選擇,滿(mǎn)足國內及國外客戶(hù)需求硅片電阻率測量的標準(ASTM F84)及國家標準設計制造;GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針?lè )ā?
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