陶瓷介電常數測定儀
產(chǎn)品概述
陶瓷介電常數測定儀特點(diǎn):
◎ 本公司創(chuàng )新的自動(dòng)Q值保持技術(shù),使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。
◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數:Q值,測試頻率,調諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨立信號 源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
陶瓷介電常數測定儀電感器:
按測試頻率要求,需要配置不同量的電感器。
例如:在1MHz測試頻率時(shí),要配250μH電感器,在50MHz測試頻率時(shí),要配0.1μH電感器等。
高頻介質(zhì)樣品(選購件):
在現行高頻介質(zhì)材料檢定系統中,檢定部門(mén)為高頻介質(zhì)損耗測量?jì)x提供的測量標準是高頻標準介質(zhì)樣品。
該樣品由人工藍寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測試樣品。用戶(hù)可按需訂購,以保證測試裝置的重復性和準確性。
工作頻率范圍是10kHz~120MHz,它能完成工作頻率內材料的高頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。
本儀器中測試裝置是由平板電容器和測微圓筒線(xiàn)性電容器組成,平板電容器一般用來(lái)夾被測樣品,配用Q表作為指示儀器。
絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過(guò)公式計算得到。
同樣,由測微圓筒線(xiàn)性電容器的電容量讀數變化,通過(guò)公式計算得到介電常數。
主要技術(shù)指標:
2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測試。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍:
tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tanδ和ε測量精度(1MHz):
tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%
工作頻率范圍:50kHz~50MHz 四位數顯,壓控振蕩器
Q值測量范圍:1~1000三位數顯,±1Q分辨率
可調電容范圍:40~500 pF ΔC±3pF
電容測量誤差:±1%±1pF
Q表殘余電感值:約20nH
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