絕緣高頻介電常數介質(zhì)損耗測試儀
型 號GDAT-A
更新時(shí)間2023-08-06
廠(chǎng)商性質(zhì)生產(chǎn)廠(chǎng)家
報價(jià)
產(chǎn)品概述
絕緣高頻介電常數介質(zhì)損耗測試儀裝置：
2.3.1 平板電容器極片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率：0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線(xiàn)性： 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圓筒電容器可調范圍：±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 裝置插頭間距：25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4
絕緣高頻介電常數介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)指標：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε測量精度（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%
工作頻率范圍：50kHz～50MHz 四位數顯，壓控振蕩器
Q值測量范圍：1～1000三位數顯，±1Q分辨率
可調電容范圍：40～500 pF ΔC±3pF
電容測量誤差：±1%±1pF
Q表殘余電感值：約20nH
特點(diǎn)：
◎ 本公司創(chuàng )新的自動(dòng)Q值保持技術(shù)，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。
◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數：Q值，測試頻率，調諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。獨立信號 源輸出口，所以本機又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
直接測量范圍 | 1～460p |
主電容調節范圍 | 40～500pF |
準確度 | 150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% |
頻率范圍 | 25kHz～10MHz |
固有誤差 | ≤5％±滿(mǎn)度值的2% |
工作誤差 | ≤7％±滿(mǎn)度值的2% |
頻率范圍 | 10MHz～60MHz |
固有誤差 | ≤6％±滿(mǎn)度值的2% |
工作誤差 | ≤8％±滿(mǎn)度值的2% |
工作特性
1．Q值測量
a．Q值測量范圍：2～1023；
b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔；
- 上一個(gè)： BEST-121絕緣體積表面電阻率測試儀
- 下一個(gè)： BDJC-50KV電壓擊穿絕緣強度試驗儀
