薄膜介電常數介質(zhì)損耗測試儀參數報價(jià)
產(chǎn)品概述
薄膜介電常數介質(zhì)損耗測試儀參數報價(jià)儀器的技術(shù)指標
1.Q值測量
a.Q值測量范圍:2~1023。
b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔。
c.標稱(chēng)誤差
項 目 | GDAT-A |
頻率范圍 | 1kHz~10MHz; |
固有誤差 | ≤5%±滿(mǎn)度值的2%; |
工作誤差 | ≤7%±滿(mǎn)度值的2%; |
頻率范圍 | 10MHz~60MHz; |
固有誤差 | ≤6%±滿(mǎn)度值的2%; |
工作誤差 | ≤8%±滿(mǎn)度值的2%。 |
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2.電感測量范圍:14.5nH~8.14H
3.電容測量:1~ 460
項 目 | GDAT-A |
直接測量范圍 | 1~460pF |
主電容調節范圍 準確度 | 30~500pF 150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1% |
注:大于直接測量范圍的電容測量見(jiàn)使用規則
4.信號源頻率覆蓋范圍
項 目 | GDAT-A |
頻率范圍 | 10MHz~160MHz |
頻率分段 (虛擬) | 10~99.9999kHz 100~999.999kHz 1~9.99999MHz 10~160MHz |
頻率指示誤差 | 3×10-5±1個(gè)字 |
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5.Q合格指示預置功能
預置范圍:5~1000。
6.Q表正常工作條件
a. 環(huán)境溫度:0℃~+40℃
b.相對濕度:<80%;
c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
7.其他
a.消耗功率:約25W;
b.凈重:約7kg;
c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
8.產(chǎn)品配置:
a.測試主機一臺;
b.電感9只;
c.夾具一 套
附表 電感組典型測試數據
線(xiàn)圈號 | 測試頻率 | Q值 | 分布電容p | 電感值 |
9 | 100KHz | 98 | 9.4 | 25mH |
8 | 400KHz | 138 | 11.4 | 4.87mH |
7 | 400KHz | 202 | 16 | 0.99mH |
6 | 1MHz | 196 | 13 | 252μH |
5 | 2MHz | 198 | 8.7 | 49.8μH |
4 | 4.5MHz | 231 | 7 | 10μH |
3 | 12MHz | 193 | 6.9 | 2.49μH |
2 | 12MHz | 229 | 6.4 | 0.508μH |
1 | 25MHz 50MHz | 233 211 | 0.9 | 0.125μH |
薄膜介電常數介質(zhì)損耗測試儀參數報價(jià)滿(mǎn)足標準:
GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(cháng)在內)下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法
介質(zhì)損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,
還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì),通過(guò)測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(ε),
可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數的各種因素,
為提高材料的性能提供依據;
儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。
它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數字鎖定,
標準頻率測試點(diǎn)自動(dòng)設定,諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索,Q值量程自動(dòng)轉換,
數值顯示等新技術(shù),改進(jìn)了調諧回路,
使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低,并保留了原Q表中自動(dòng)穩幅等技術(shù),
使得新儀器在使用時(shí)更為方便,測量值更為精確。
儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,
電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,
電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。
該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位對無(wú)機非金屬新材料性能的應用研究。
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